微晶玻璃平面度测量装置

产品简介：

针对电磁炉微晶玻璃及电磁炉平面度测量等相关标准要求；

技术参数：

1.采用三点法龙门架工装治具自动缓慢移动读取数据，含高精度平板；

2.使用方法将专用支架放置在样品上；

3.通过针对对角点和中心距高度的对比点的数值；

4.采用触摸屏设定移动的范围，以及上下偏差的报警值一键启动即可测量；

5.每次测量采集点可记录多点数据。任意可选取3点采样对比。